Difracción de rayos X y el método Rietveld

Teoría y software de refinamiento

Libro impreso COP $17,000 Cantidad:

Categorías: Física, Catálogo editorial de la Universidad del Valle

Impreso

Estado de la publicación:

Activo

Año de edición:

2012

Idioma:

Español

ISBN-13:

Páginas:

130

Tamaño(cm):

17 x 24

Peso (kg):

0.23 kg

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Descripción

Estas notas tienen como objetivo presentar, en primer lugar, la parte teórica relacionada con los aspectos principales de la difracción de rayos-x. Con estos aspectos teóricos el lector entenderá como se calculan las diferentes características estructurales de una muestra a estudiar por medio de un programa basado en el Método Rietveld. En segundo, lugar se describe someramente como trabaja el método y se muestran las relaciones empíricas que se utilizan para describir el perfil de las líneas de difracción; luego se enumeran y explican cuáles son los parámetros que refina el programa GSAS y cómo ellos se relacionan con las informaciones estructurales de interés. Posteriormente, se muestran los pasos a seguir para refinar un patrón de difracción de una muestra de calibración (hexaboruro de Lantano, LaB6) y se resalta el papel de ella en la obtención de los parámetros estructurales de otras muestras a estudiar; luego se ilustran los pasos a seguir para refinar unos patrones de difracción de muestras con orientación preferencial (brucita) y de aquellas con tres fases y obtener, además de los parámetros estructurales, un análisis cuantitativo de ella.

Clasificación Temática

BISAC

SCI055000 CIENCIA > Física > General

THEMA

PH Física

Autor(es)